Análise dimensional de sistemas de medição em superfícies livres

Análise dimensional de sistemas de medição em superfícies livres

Avaliação dimensional com e sem contato

Novas Edições Acadêmicas ( 27.06.2018 )

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Com a competitividade inerente ao mercado sem fronteiras, a sustentabilidade de uma empresa envolve, necessariamente, ações de garantia da qualidade do produto e do processo de fabricação. Por sua vez, a garantia da qualidade será efetiva se, e somente se, as informações por ela analisadas forem confiáveis e consistentes, papel esse que cabe à Metrologia. No sub-ramo da metrologia dimensional, pode-se dizer que um dos grandes desafios reside na medição de peças fundidas de médio e grande porte, principalmente aquelas caracterizadas pela presença de superfícies livres. A metrologia por coordenadas tradicional, adequada a tantos cenários, não pode ser considerada uma solução ótima para a medição de superfícies livres em peças fundidas de médio e grande porte, principalmente pela falta de portabilidade. Nesse caso, os braços articulados de medição e os sistemas baseados em fotogrametria surgem como opções bastante convidativas. O corpo do presente trabalho envolve exatamente a avaliação metrológica e operacional desses sistemas de medição.

Detalhes do livro:

ISBN-13:

978-613-9-63266-4

ISBN-10:

6139632668

EAN:

9786139632664

Idioma do livro:

Português

Por (autor):

Clídio Richardson Gonçalves de Lima
Gustavo Donatelli
Crhistian Baldo

Números de páginas:

116

Publicado em:

27.06.2018

Categoria:

Tecnologia